Von 2 bis 3 mm dicken Silicagel-Dünnschliffen wurden im nahen Ultrarot (4000 bis 10 000 cm⁻¹) gut auswertbare Spektren erhalten. Intensitätsänderungen und Lageverschiebungen an unbehandelten und bei 800°C geglühten Silicagel wurden diskutiert. Eine Bestimmung des chemisch gebundenen Wassers und des absorbierten Wassers war möglich durch das Aufstellen einer Eichkurve der Wasserkombinationsschwingungsbande bei 5265 cm⁻¹ und Bestimmen des Gesamtwassers durch Glühen bei 1100°C. Der Gehalt an chemisch gebundenem Wasser in dem verwendeten Silicagel betrug 0,19 H₂O/SiO₂.

Das Spektrum der Fig. 1. wurde mit dem Perkin-Elmer-Spektralphotometer 221, alle anderen mit dem “Beckman”-Spektralphotometer DK 2 aufgenommen.

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Authors and Affiliations

1. Frankfurt/Main-Höchst

   Günter Wirzing

Cite this article

Wirzing, G. Untersuchungen am System SiO₂/H₂O im nahen Ultrarot. Naturwissenschaften 50, 466–469 (1963). https://doi.org/10.1007/BF00632911

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• Received: 04 August 1962

• Issue Date: January 1963

• DOI: https://doi.org/10.1007/BF00632911